CH-8系列綜合性分析探針臺測試系統
最大可用于12英寸以內樣品測試； 操作便捷，功能其全，高效精準； 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
CH-12 綜合性分析探針臺測試系統
CT-6高低溫探針臺
最大可用于12英寸以內樣品測試 采用密閉腔結構，屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜
CGO-高低溫真空探針臺
溫度范圍77K-675K(液氮)； 可應用于真空及常規環境； 超高溫度分辨率； 特殊客制低溫系統； 具有極高穩定性
CP200半自動探針臺
CP200系列|200mm半自動探針臺能對晶片實現自動對位測試 操作簡單，快捷，測試精度高，具有MAP顯示功能。 與測試儀連接后，能自動完成對各種晶體管芯的電參數測試及功能測試。
0.5um精度探針座
適用于I-V/C-V/RF/亞微米級測試測試的定位器
0.7μm精度探針座
亞微米級測試
±1μm精度探針座
適用于I-V/C-V測試的微型定位器
10μm精度探針座
基礎I-V測試
RF探針座
RF探針座適宜配合高頻探針使用，我司CB-100以及CB-200均可做射頻探針座.
