可測(cè)片型:3 寸、 4寸、5寸,6寸、8寸、12寸
測(cè)試硅片單元尺寸:20—300 mil
X-Y軸采用先進(jìn)的直線電機(jī)驅(qū)動(dòng),行程:350mm*400mm,
X-Y軸移動(dòng)分辨率:0.1μm,
X-Y軸重定位精度:≤±1μm,
X-Y移動(dòng)速度:≥80mm/sec
Z軸采用高精度4導(dǎo)軌結(jié)構(gòu),有效保證負(fù)載和垂直度,行程:20mm,
Z軸移動(dòng)分辨率:0.1um,
Z軸重定位精度:≤±1μm,
Z軸移動(dòng)速度:≥20mm/sec
Theta軸采用高精度DD馬達(dá),角度行程:±10°,Theta角度分辨率:0.00018°
誤測(cè)率:≤ 1 ‰
全自動(dòng)對(duì)位時(shí)間:≤ 15 s
測(cè)試速度 45 mil 5.0 pcs/s
50 mil 4.6 pcs/s
87 mil 4.2 pcs/s
步進(jìn)分辨率:0.001
Z向行程:0~5mm 可調(diào)
承片臺(tái)轉(zhuǎn)角θ調(diào)節(jié)范圍:±20o
◆卡盤平臺(tái)參數(shù)規(guī)格:
卡盤 XY軸
行程范圍
≥360 x 420mm
分辨率
0.1 μm
定位精度
≤±2.0μm
重復(fù)精度
≤±1.0 μm
XY級(jí)驅(qū)動(dòng)器
閉環(huán)高精度步進(jìn)電機(jī)
最高移動(dòng)速度
≥70mm/s
行程范圍
≥20mm
分辨率
0.1μm
定位精度
≤±2.0 μm
重復(fù)精度
≤±1.0 μm
Z級(jí)驅(qū)動(dòng)
閉環(huán)高精度步進(jìn)電機(jī)
最高移動(dòng)速度
≥20mm/s
*速度是瞬時(shí)速度,而不是平均速度。移動(dòng)時(shí)有加速和減速時(shí)間。
卡盤 旋轉(zhuǎn)軸
行程范圍
≥15°
分辨率
0.0001°
定位精度
≤±2.0μm (在300 mm卡盤的邊緣測(cè)量)
重復(fù)精度
≤±1.0μm
Theta級(jí)驅(qū)動(dòng)
閉環(huán)高精度步進(jìn)電機(jī)
◆顯微鏡平臺(tái)參數(shù)規(guī)格:
顯微鏡XY軸
XY行程范圍
50x50mm
分辨率
1μm
定位精度
≤±5.0μm
重復(fù)精度
≤±2.0μm
XY行程范圍
120mm
分辨率
0.1μm
定位精度
≤±2.0μm
重復(fù)精度
≤±1.0μm
◆探針臺(tái)臺(tái)面板:
材料
鍍鎳鋼
臺(tái)面板尺寸
880*940mm
探針座安裝定位
磁吸座/真空吸座
多探針座布局
12個(gè)直流探針座或4個(gè)直流+ 4個(gè)射頻探針座布局
高低溫?zé)崤蛎浱幚?/span>
隔熱系統(tǒng)與氣流對(duì)流方式
◆腔體屏蔽性能
屏蔽類型
卡盤周圍完全黑暗
屏蔽方式
法拉第籠
EMI屏蔽
≥ 30 dB 0.5-20 GHz
頻譜本底噪聲
≤ -180 dBVrms/rtHz (≤ 1 MHz)
系統(tǒng)交流噪聲
≤ 5 mVp-p (≤ 1 GHz)
光衰減
≥130dB
◆顯微鏡系統(tǒng)
連續(xù)變倍范圍
0.58X-7.5X連續(xù)變倍
CCD
500萬(wàn)像素分辨率1920*1200幀率40fps
物鏡
1X,2X,5X,10X
放大倍率
140X-1818X(5X物鏡)
◆XY手輪:
手輪分辨率
1000線
作用
方便的調(diào)節(jié)下針位置
加載方式
手動(dòng)加載
拉出范圍
≥80%
拉出盒鎖定方式
氣缸鎖緊
頂PIN
可選
門鎖
運(yùn)動(dòng)時(shí)無(wú)法打開(kāi)
◆卡盤:
尺寸
≥300mm(可選200mm卡盤)
溫度
-60-300℃(-60-300℃,常溫,常溫-200/300℃可選)
類型
同軸/三軸/大功率
晶圓固定方式
真空吸附
吸附范圍
0、48、96、192mm/ 多孔吸附(適用薄片)
接線方式
BNC/三軸開(kāi)爾文接線
平面度
≤10um@25℃(補(bǔ)償后)
◆升降溫時(shí)間(12寸)
升溫時(shí)間
≤10min
25℃-200℃
≤25min
200℃-300℃
≤25min
降溫時(shí)間
25℃- -60℃
≤50min
200℃-25℃
≤20min
300-25℃
≤25min
◆軟件解決方案:
Auto align
自動(dòng)水平調(diào)整
Wafer map
自動(dòng)生成map圖
Auto XYZ
視覺(jué)補(bǔ)償,適應(yīng)切片后不等間距測(cè)試
Bin值
對(duì)產(chǎn)品等級(jí)進(jìn)行區(qū)分
打點(diǎn)
Wafer上標(biāo)記壞點(diǎn)
Focus
顯微鏡自動(dòng)聚焦在最清晰畫(huà)面
測(cè)試軟件
對(duì)測(cè)試機(jī)與探針臺(tái)進(jìn)行互聯(lián)測(cè)試,保存測(cè)試結(jié)果等
=
卡盤 Z軸
顯微鏡Z軸
◆晶圓加載